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上文中我們介紹了一些針對(duì)落地式XRD的用戶日常儀器檢查維護(hù)技巧，主要集中于儀器清潔和外設(shè)日檢，本文將向大家繼續(xù)介紹XRD儀器其他部位的日檢及周檢技巧。日檢4：檢查光管打火XRD光管打火不僅會(huì)直接損害光管硬件，還可能通過影響X射線穩(wěn)定性和儀器精度，導(dǎo)致分析結(jié)果偏差。日常使用中需嚴(yán)格遵循操作規(guī)程，定期維護(hù)真空系統(tǒng)和冷卻系統(tǒng)，并每日在軟件中檢查光管打火情況，以降低頻繁打火的風(fēng)險(xiǎn)并延長(zhǎng)儀器壽命。在DataCollector中點(diǎn)擊Systemmaintenance，找到Tubecoun...

粉末衍射儀是一種基于X射線衍射技術(shù)的分析儀器，主要用于晶體物質(zhì)的定性和定量分析以及物相結(jié)構(gòu)研究。其工作原理是當(dāng)一束X射線照射到晶體樣品上時(shí)，由于晶體內(nèi)部原子周期性排列，X射線會(huì)發(fā)生衍射，不同晶面間距的原子層會(huì)對(duì)X射線產(chǎn)生特定角度的衍射增強(qiáng)，形成衍射圖譜。通過分析衍射圖譜，可以獲取晶體的晶格參數(shù)、結(jié)晶度等信息。粉末衍射儀的核心部件包括X射線光源、測(cè)角儀和探測(cè)器?，F(xiàn)代粉末衍射儀技術(shù)先進(jìn)，測(cè)角儀角度精度可達(dá)0.0001°，測(cè)角半徑最大超過280mm，能夠精確測(cè)量衍射峰的位置。探測(cè)器...

納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量納米及亞微米級(jí)顆粒粒徑、Zeta電位等參數(shù)的分析儀器，在化學(xué)、材料科學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。該儀器主要基于動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態(tài)光散射（SLS）技術(shù)工作。動(dòng)態(tài)光散射通過檢測(cè)顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度計(jì)算粒徑分布；電泳光散射測(cè)量顆粒在外加電場(chǎng)中的遷移率，轉(zhuǎn)化為Zeta電位值；靜態(tài)光散射則利用散射光強(qiáng)直接測(cè)定高分子物質(zhì)的絕對(duì)分子量及第二維利系數(shù)。其粒徑檢測(cè)范圍通常覆蓋0.3nm至10μm，支持低至12μL的微量樣品檢測(cè)，并具備自動(dòng)化...

本文摘要在藥物顆粒粒徑表征和方法開發(fā)研究中，會(huì)遇到各類困擾研發(fā)人員的問題，包括背景、干擾、參數(shù)篩選、分散體系選擇、方法轉(zhuǎn)移、結(jié)果分析和對(duì)比，以及儀器簡(jiǎn)單清理等日常維護(hù)。本文針對(duì)這類問題集中歸納分析，并給出專業(yè)的指導(dǎo)意見和解決方案。01丨濕法分散粒徑分布圖顯示大顆粒，是真實(shí)存在的顆粒嗎？濕法分散中出現(xiàn)有大顆粒分布，首先需要重復(fù)測(cè)樣或用顯微鏡輔助觀測(cè)判斷大顆粒情況，以排除樣品中確有真實(shí)的大顆粒的情況。而如果不是真實(shí)顆粒造成大顆粒分布的原因，有可能是藥物分散體系中揮發(fā)性有機(jī)試劑造成...

粉末衍射儀是一種基于X射線衍射技術(shù)的分析儀器，主要用于晶體物質(zhì)的定性和定量分析以及物相結(jié)構(gòu)研究。其核心原理是當(dāng)X射線照射到晶體樣品時(shí)，因晶體內(nèi)部原子周期性排列，X射線會(huì)在特定方向上發(fā)生衍射加強(qiáng)，形成特征衍射圖譜。儀器通過測(cè)量這些圖譜，可獲取晶格參數(shù)、結(jié)晶度等關(guān)鍵信息。該儀器由X射線光源、測(cè)角儀、探測(cè)器及控制系統(tǒng)等核心部件組成。其中，測(cè)角儀負(fù)責(zé)精確控制樣品與探測(cè)器的角度，主流型號(hào)的測(cè)角儀角度精度可達(dá)0.0001°，測(cè)角半徑最大超過280mm；探測(cè)器類型涵蓋單光子計(jì)數(shù)、陣列及閃爍...